19.08.2016 Лет 10-20 назад вопрос о возможности использования тестеров с подвижными пробниками для ремонта электронных модулей прозвучал бы довольно странно, ведь в то время основной технологией автоматического выявления дефектной продукции являлось функциональное тестирование модулей с помощью специализированных стендов. Однако повышенная сложность электронных модулей и прогрессивное развитие технологий тестирования с помощью подвижных пробников в корне изменили концепцию тестирования.Сегодня тестеры с подвижными пробниками широко используются как на стадиях разработки и выпуска единичной продукции, так и в серийном многономенклатурном производстве, поскольку значительно сократилось время создания тестовых программ и увеличилась производительность таких систем.
Специалисты нашего сервисного центра, занимающиеся ремонтом электроники и имеющие большой опыт использования тестеров с подвижными пробниками, пришли к выводу, что для максимально точной локализации неисправностей смонтированных модулей эти системы должны отвечать ряду требований:
Максимальный доступ к тестовым точкам и/или выводам компонентов
Создание тестовой программы при отсутствии исходных данных САПР
Генерация принципиальной схемы (при отсутствии исходных данных САПР) для последующего функционального контроля
Расширенный набор тестовых инструментов
Расширенный функциональный контроль
Точная локализация неисправностей
Ремонт модулей с конформным покрытием
Минимальные временные затраты на генерацию тестовых последовательностей при максимальном тестовом покрытии и производительности системы
Эти выводы были сделаны на основе проведённого нами исследования при выполнении ремонта печатной платы с отсутствующими исходными данными (принципиальной схемой, перечнем установленных компонентов). Получив в ремонт такую плату, мы столкнулись с проблемой отсутствия данных САПР, необходимых для создания тестовой программы. Для проведения ремонта требовалось сначала воссоздать принципиальную схему по имеющемуся образцу. Здесь существует несколько решений: от достаточно простых ручных установок, применяемых для несложных электронных модулей, до универсальных автоматизированных тестовых систем на базе тестеров с подвижными пробниками, на которых можно реализовать метод обратного проектирования со сложными электронными модулями. В случае применения технологии обратного проектирования, которая достаточно эффективно решает вопрос воссоздания принципиальной схемы, нами предварительно были определены важные факторы проведения качественного сбора данных: полноценный доступ пробников к любому месту на плате и наличие у тестовой системы камер с высоким разрешением, способных передавать снимки в программную среду, которая впоследствии автоматически будет генерировать список цепей платы. И решение, соответствующее этим требованиям, нашлось – это тестер с подвижными пробниками Pilot 4D V8 производства итальянской фирмы Seica.


_small.jpg)