Мониторинг качества процессов закалки листового стекла от ТЕККНОУ

 19.04.2022 АО «Теккноу» представляет Систему для непрерывного измерения температуры в процессе закалки листового стекла- Optris Top Down GIS 640 R. Top-Down GIS - компактная промышленная система, которая идеально подходит для контроля температуры стекла по всей поверхности и может использоваться для управления технологическим процессом в установках для его производства.



Особенности:

• ИК система, с дополнительным эталонным пирометром, расположенным снизу, для автоматической коррекции коэффициента излучения обычного и низкоэмиссионного стекла;
• Система защиты линз с цифровым управлением позволяет избежать дополнительной продувки воздухом;
• Автоматический расчет области сканирования (площади стекла);
• Система поставляется в предварительной сборке для более легкого монтажа на печь для закалки стекла;
• Автоматическая настройки линии сканирования, нечувствительность к искажениям.

Более подробно о данной системе можно узнать перейдя по ссылке.