Компания Teledyne LeCroy анонсировала выпуск анализатора высокоскоростных соединений WavePulser 40iX

18.06.2019 WavePulser 40iX - это идеальный инструмент для разработчиков и тест-инженеров высокоскоростного оборудования для анализа и определения характеристик коннекторов и кабелей, используемых для передачи высокоскоростных последовательных протоколов, таких как PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet и Автомобильный Ethernet.

До сих пор, тестирование и проверка межсоединений были разделены на две области: временная и частотная.

- Тестирование во временной области (time-domain testing). Использование TDR (рефлектометрия) технологии для создания профиля импеданса путем подачи зондирующих импульсов. TDR измерения характеризуются высоким пространственным разрешением, позволяющим точно определять местоположение повреждения вдоль всего тракта, по изменениям в профиле импеданса.
   
- Тестирование в частотной области (frequency-domain testing, VNA – векторный анализатор цепей). Тестирование в частотной области, характеризуется большим динамическим диапазоном, и применяется для измерения S-параметров радиочастотных (RF) компонентов.

WavePulser 40iX

Векторные анализаторы цепей адаптированы для анализа межсоединений высокоскоростных последовательных устройств, но при этом возрастает погрешность экстраполяции DC в процессе моделирования устройств.

Получается, что ни один из испытательных приборов, по отдельности, полностью не отвечает потребностям инженеров-разработчиков, которые испытывают и проверяют межсоединения высокоскоростных последовательных устройств.

Анализатор WavePulser 40iX сочетает в себе функциональные возможности двух приборов, векторный анализатор и рефлектометр, и позволяет выполнять тестирование, как во временной, так и частотной областях, а так же предоставляет возможности глубокого анализа.

Быстрая автоматическая калибровка и готовность к работе анализатора WavePulser 40iX упрощает анализ физического пути сигнала, снимая точную характеристику кабелей последовательной передачи данных, каналов, разъемов, печатных плат, однокристальных систем.

Измеренные S-параметры также могут быть использованы для дополнительных анализов, включая временное стробирование, выделение межсоединений, глазковые диаграммы, оптимизированных установок выравнивания, симуляции шаблонов последовательных данных, и расширенный анализ джиттера с разбивкой на составные элементы.

Ключевые особенности:

- Измерение S-параметров, DC ~ 40 ГГц, несимметричный (single-ended) и смешанный (mixed-mode) режимы.
- Профиль импеданса с разрешением < 1 мм.
- Внутренняя, автоматическая OSLT калибровка.
- Гибкие настройки экрана измерений.
- Удаление влияния крепежей, разъемов, кабелей.
- Эмуляция глазковых диаграмм с CTLE, DFE и FFE выравниванием.
- Расширенные возможности по анализу джиттера.
- Подключение по USB интерфейсу, компактный, легкий.