SCADA, АСУ ТП, контроллеры – основная тематика журнала «ИСУП»
Журнал «Информатизация и Системы Управления в Промышленности» публикует тематические материалы посвященные SCADA, АСУ ТП, контроллерам, автоматизации в промышленности.

Компания «Родник» представляет новое поколение источников-измерителей Keithley

rodnik.jpgЗАО «НПП «Родник» объявляет о начале поставок новой модели источников-измерителей Keithley 2450. Данные приборы являются идеальным средством измерения вольтамперных характеристик и функционального тестирования широкого круга современных электронных устройств, в т.ч. изделий микро- и наноэлектроники.
Модель 2450 объединяет в одном компактном корпусе функции прецизионных программируемых источников напряжения и тока, высокоточного 6 ½-разрядного цифрового мультиметра, микроомметра, программируемой электронной нагрузки и контроллера триггерных линий.

20-4.jpg

Особенности модели Keithley 2450:

Параметры:
- основная погрешность 0, 012%;
- входной шум в широкой полосе, тип.: 2 мВ (СКЗ);
- диапазон напряжений (измерение/воспроизведение): от 10 нВ/500 нВ до 200 В;
- диапазон токов (измерение/воспроизведение): от 10 фА/500 фА до 1 А;
- диапазон сопротивлений: от 1 мкОм до >200 МОм;
- быстродействие не менее 3 000 измерений/с;
- объем встроенной памяти не менее 250 000 значений;
- внешние интерфейсы: GPIB, USB, Ethernet (LXI).

Пользовательский интерфейс:
- полноцветный 5-дюймовый сенсорный графический экран со встроенной контекстной подсказкой;
- простая и интуитивно понятная структура меню;
- ускоренная процедура конфигурирования, набор готовых типовых конфигураций.

Принцип «все в одном»:
- функции измерения и воспроизведения напряжения, тока и сопротивления;
- функции дорогостоящих измерителей параметров полупроводниковых устройств за существенно меньшую цену.

Точность:
- расширенные диапазоны малых токов и напряжений позволяют обойтись без применения дополнительных предусилителей.

Защита измеряемых устройств:
- непрерывный контроль и ограничение мощности в измеряемом устройстве.

Универсальность:
- разработана для тестирования практически любых современных электронных устройств, в т.ч. изделий микро- и наноэлектроники.

Обработка и отображение данных:
- представление зависимостей в графическом виде на встроенном экране;
- экспорт данных в табличные форматы для дальнейшего анализа.

Более подробную информацию Вы можете получить у специалистов отдела Информационных технологий и специальных проектов НПП «Родник», а также на сайте компании.



ЗАО «НПП «Родник»